網路研討會及影片 - 半導體測試
目前已有多家半導體領導公司採用了 NI 晶片測試解決方案，所適用的檢驗、特性描述，與生產環境可囊括類比數位轉化器 (ADC)，電源管理 IC (PMIC) 及 RFIC。歡迎觀看以下網路研討會了解 NI 產品在半導體測試的應用及優點:
半導體測試
NI 多款產品均可測試常見的半導體裝置，如 ADC/DAC、電力管理 IC、無線 IC，還有適用於特性描述與生產環境的微機電整合系統 (MEMS)。觀看以下影片更進一步了解如何降低晶片測試成本:
NI 半導體測試產品之特點
觀看以下影片了解 NI 硬體 PXI 如何提升各種不同類型半導體測試系統的彈性:
半導體相關網路資源:
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