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網路研討會及影片 - 半導體測試

 

目前已有多家半導體領導公司採用了 NI 晶片測試解決方案,所適用的檢驗、特性描述,與生產環境可囊括類比數位轉化器 (ADC),電源管理 IC (PMIC) 及 RFIC。歡迎觀看以下網路研討會了解 NI 產品在半導體測試的應用及優點:  

 

半導體測試

NI 多款產品均可測試常見的半導體裝置,如 ADC/DAC、電力管理 IC、無線 IC,還有適用於特性描述與生產環境的微機電整合系統 (MEMS)。觀看以下影片更進一步了解如何降低晶片測試成本:

 NI 半導體測試介紹影片

 半導體測試的創新

 RFIC 自動化測試系統架構

NI 半導體測試產品之特點

觀看以下影片了解 NI 硬體 PXI 如何提升各種不同類型半導體測試系統的彈性:

 以 PXI 提生半導體的檢驗測試

 降低新一代數位 ATE 系統的成本與體積

 使用 PXI 與 LabVIEW 測試半導體晶片

 以 PXI 進行 DC 參數檢驗測試

 以 PXI 進行數位協定與測試

半導體相關網路資源: