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技術研討會訊息

2015

半導體測試暨 IC 驗證 

技術研討會

 

8/27 (四)

8:40 - 16:40

新竹愛因斯坦國際科技經貿中心 3 樓

 

 

 

 

活動焦點:

  • 透過開放式架構測試縮短產品EVT到PVT的測試開發流程
  • 創新的高速序列與邏輯分析技術,降低系統成本並應用到量產測試
  • 先進的高精準電源供應與量測技術,取得更完整的半導體元件特性測試結果
  • 業界針對 RFIC、CIS 與 LED 的測試實務分享