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半導體測試

 

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半導體測試

半導體晶片的設計難度不斷提升,並需要更高階的測試系統描述效能特性,且進一步提高了測試成本。NI 儀控功能的軟體定義方式,可讓半導體工程師結合彈性的硬體平台 (如 PXI),與可調整的軟體 (如 NI LabVIEW、 TestStand),以降低晶片測試的成本。目前為止,已有多家半導體領導公司採用了 NI 晶片測試解決方案,所適用的檢驗、特性描述,與生產環境可囊括類比數位轉化器 (ADC),電源管理 IC (PMIC) 及 RFIC。

晶片測試解決方案                                                          量測類型

NI 平台的優勢

了解 NI 硬體與軟體將如何提升半導體測試系統的彈性,以降低整體的測試成本。

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半導體使用者解決方案

了解亞德諾 (Analog Devices,ADI) 半導體公司、安森美半導體 (ON Semiconductor) 公司是如何使用 PXI 與 LabVIEW 以獲得更大優勢。

下載使用者解決方案

 

NI 半導體測試系統 (STS)

PXI 架構的 NI 半導體測試系統 (STS) 結合了模組化儀器與系統設計軟體,適用於 RF 和混合式訊號生產測試。

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NI 聯盟夥伴 (Alliance Partners)

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