You are here

物聯網時代 - Intel 關鍵自動化測試方法揭密

 

物聯網時代,萬事萬物將能彼此感知、計算及通訊,因此各種創新產品將紛 紛引入市場,為了把握產品創新的最佳時機,如何加快產品的設計、測試速度,縮短上市時間成為主要難題;因此為了提供最佳的自動化測試方法,NI 與 Intel 攜手合作,將 Intel Xeon 處理器的伺服器級處理能力引進測試量測市場。

「採用最新的 Intel Xeon處理器是我們與 NI 合作的新里程碑。物聯網時代需要最強大的處理能力來縮短產品上市時間和降低測試成本,而 NI 的 PXI方案正是實現這一目標的關鍵。」Shahram Mehraban,Intel 工業物聯網市場開發總監

關鍵一   Intel 最強處理器
關鍵二  Gen 3 最新技術
關鍵三   測試應用彈性高
關鍵四  突破箱型式限制

NI PXIe-8880 嵌入式控制器擁有八個核心、高達24GB的DDR4記憶體以及24個PCI Express Gen 3與背板的連接 Lane。 這為工程師和科學家提供了市面上處理器前所未見的處理能力和頻寬。

NI PXIe-8880 控制器,包含Intel Xeon 處理器,側面圖(左)、正面圖(右)

自1997年PXI標準誕生以來,NI一直不斷提供廣泛的高效能機箱組合來滿足各種使用者應用的I/O點和效能需求,在推動使用者創新的過程中發揮了關鍵的基礎作用。 NI最新版本的機箱是首款基於PCI Express Gen 3技術的機箱,為工程師提供Gen 2 或市面上高階工業電腦兩倍以上的系統頻寬。

24個可用資料 Lane (x24) 架構的PXI/PXIe 的系統頻寬

NI PXIe-1085 Gen 3機箱,系統頻寬24 GB/s

在物聯網的快速催化之下,雖然無法預測產品創新的未來,但卻可以選擇具備高靈活性和易擴充的架構,PXI 模組化儀器使得控制器、機箱性能得以不斷提升,NI PXI為未來測試和測量應用提供完美解決辦法。

“在過去的二十年裡,我們見證了自動化測試領域由傳統儀器逐漸向PXI平台轉移的過程。 整合Intel Xeon處理器技術後,我們預期PXI將廣泛應用于高效能應用中。”

- Jessy Cavazos,Frost & Sullivan 量測和儀控產業經理

自動化測試 - 主要應用領域
無線測試

自1978年AMPS協議實施以來,無線通訊協定對資料傳輸所需的頻寬需求日益增長。 這意味著驗證這些協定的測試系統必須能夠採集、分析和顯示來自儀器的大量資料。 由於測試系統的平均壽命一般為五到七年,無線測試工程師開始轉向模組化方法,以降低實施新協定後更新軟體和硬體的工具成本。

半導體測試

雖然NI半導體測試系統 (STS) 等半導體測試系統不會消耗大量資料,但是它們需要並行消耗許多資料來提高測試輸送量或每小時測試的零件數量。 多點測試輸送量的一個主要參數是測試系統的並行測試效率 (PTE),這對於測試系統來說通常是固定的。 但是對於NI STS等模組化方法,添加八核Intel Xeon處理器和NI TestStand等強大的多核測試執行軟體的能力提供了一種提高PTE的經濟方法,進而提高半導體測試工程師的生產力。

5G原型開發

開發第五代(5G)行動系統需要密集的信號處理、緊密的同步、控制功能以及I/O點來實現每秒數十億位元的資料速率。 結合LabVIEW Communications System Design Suite等功能強大的軟體, NI PXIe-8880控制器和NI PXIe-1085 24 GB/s機箱的多核處理能力和高頻寬為任何原型開發平台提供了理想的起點。

箱型式儀器盲點在於設備的升級限制及未來的擴充彈性,常導致原有量測儀器無法達未來量測需求而被汰換,其中最常見的原因是處理能力的限制,而 PXI 系統就可因應摩爾定律 (Moore’s Law),不斷提升處理器能力,而能更符合未來的測試需求,並被各家儀器商、使用者廣為推崇。

處理能力,PXI Controller vs Box Instrument

PCI/PXI Express 2.0 為先前最高速匯流排技術,被稱為 Gen 2,但隨著處理器能力的提升,處理能力和頻寬 (Bandwidth) 的提升,以及延遲狀況 (Latency) 降低成為重點;NI 率先基於PCI Express Gen 3技術,推出首款機箱 NI PXIe-1085 24 GB/s 機箱。

匯流排 Latency 和 Bandwidth