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NI PPMU 測試解決方案

National Instruments

PPMU 測試解決方案

半導體製程中, IC 測試廠商現今面臨的挑戰,除了更複雜的測項外,同時也面臨測試成本不斷壓低的情況,所以勢必需要找尋能夠高度整合複雜測試項目,同時加快測試速度的解決方案。

以 DC 相關測試為例,如果需要測試 IC 的 Open/Short、漏電流及電壓準位,我們需要電源供電器、波形產生器及多通道切換器等三台設備,但 NI 卻只需要一張 PXIe-6556 PPMU 模組即可滿足以上的測試需求,接著我們來看 PXIe-6556 的實際測試應用。

 

NI PXIe 6556 = 電源供應器 + 波形產生器 + 多通道切換器

PXIe 6556 介紹 :

PXIe 6556 的優勢 :

  • 系統彈性高 : PXI系統輕鬆升級至更高效能
  • 體積小 : 只需要 2 個 PXI 插槽就可取代三台儀器
  • 測試速度快 : 支援高達 400 Mbits/s 訊號測試
NI 推薦 :

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 技術文章 : 了解如何用 NI PXIe 6556 設計半導體 ATE

 

 

 

 

 

測試介紹

晶片測試                                                                      

各式量測類別                            

 

 

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